W1光學3d輪廓檢測儀直觀的操作界面，讓您對操作流程一目了然，自動聚焦，助您一鍵實現(xiàn)測量過程；可視化的工作流程樹，一鍵激活的圖庫管理功能，所見即所得的分析功能，有一鍵分析功能，批量測量不用愁。
技術參數(shù)
產(chǎn)品型號：SuperView W1系列
產(chǎn)品名稱：光學3D表面輪廓儀
影像系統(tǒng)：1024×1024
光學ZOOM：0.5×，（0.75×，1×可選）
干涉物鏡：10×，（2.5×，5×，20×，50×，100×可選）
XY平臺：尺寸320×200mm，行程140×110mm，電動、手動同時具備，均為光柵閉環(huán)反饋
Z軸行程：100mm，電動
Z向掃描范圍：10mm
Z向分辨率：0.1nm
可測樣品反射率：0.05%-100%
水平調(diào)整：±5°手動
粗糙度RMS重復性：0.005nm
臺階高測量：準確度0.3%，重復性0.08% 1σ
主要特點：非接觸式無損檢測，一鍵分析、測量速度快、效率高
生產(chǎn)企業(yè)：深圳市中圖儀器股份有限公司
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W1光學3d輪廓檢測儀采用了掃描模塊和內(nèi)部抗振設計，可實現(xiàn)高0.05%的測量精度重復性和0.002nm的粗糙度RMS重復性，可測2D/3D輪廓、粗糙度，300余種特征參數(shù)……在半導體、精密加工及微納材料等領域可得到廣泛應用，光滑硅晶片表面粗糙度、精密非球面弧面線粗糙度、金字塔型磁頭夾角、微透鏡陣列曲率半徑等。
