A、基礎(chǔ)理論技術(shù)
●電子理論與新技術(shù)
●計量、測試信息理論
●信息工程理論
●信號提取、分析與處理
●數(shù)據(jù)壓縮與信息融合
●時間-頻率分布及變換
●神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)及應(yīng)用
●工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)開發(fā)與應(yīng)用
●人工智能及專家系統(tǒng)
●仿真及應(yīng)用
●仿生電子等邊緣科學(xué)
●測試系統(tǒng)的發(fā)展和方向
●電子工程數(shù)學(xué)建模
●超導(dǎo)技術(shù)
B、電子設(shè)計應(yīng)用
●通/專用CPU設(shè)計加工
●A/D、D/A變換數(shù)據(jù)采集
●模擬、數(shù)字電路設(shè)計
●即插即用與熱插拔設(shè)計
●傳感器、控制器設(shè)計開發(fā)
●IC/SOC設(shè)計、開發(fā)與測試
●VHDL開發(fā)與設(shè)計
●失真與干擾的抑制
●模塊電路設(shè)計與應(yīng)用
●電源開發(fā)與測試
●汽車電子應(yīng)用設(shè)計與測試
●電力電子技術(shù)
●納米等新材料的開發(fā)、應(yīng)用與測試
●網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用與測試
C、工控技術(shù)
●自動測試軟件平臺
●自動測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)
●環(huán)保工控系統(tǒng)
●PLC/PLD/FPGA
●數(shù)據(jù)采集
●工控方案建立與規(guī)劃
●自動監(jiān)控系統(tǒng)
●遠程工控技術(shù)
D、總線與儀器開發(fā)
●總線技術(shù)：VXI、PXI、PCI、compactPCI、GPIB、CAN、USB、1394等總線的開發(fā)、應(yīng)用
●總線系統(tǒng)的組建與集成
●電子儀器的開發(fā)與應(yīng)用
●醫(yī)用電子儀器儀表 |
●農(nóng)林業(yè)儀器開發(fā)應(yīng)用
●基于網(wǎng)絡(luò)的儀器
●儀器總線的應(yīng)用與開發(fā)
●通用機箱設(shè)計與應(yīng)用
●數(shù)字化儀器、智能儀器
●卡式和模塊儀器
E、計(測)量監(jiān)測
●遙感監(jiān)測技術(shù)與應(yīng)用
●環(huán)境監(jiān)測與氣象監(jiān)測
●基本標(biāo)準(zhǔn)及傳遞方法
●可測性設(shè)計
●校準(zhǔn)、計量和標(biāo)準(zhǔn)
●LF/RF/MW/WMW測量應(yīng)用
●模/數(shù)電路測試
●多片模塊測試
●時間、頻率及數(shù)據(jù)域測量
●反射、傳輸和衰減測量
●通信測試及儀器
●聲測試和振動測試
●壓力、溫度及濕度測試
●非電量參數(shù)的測量
●激光測試/組件分析
●EMC/EMI測試
●表面檢測與分析
●IDDQ測試、無損檢測
●邊界掃描測試
●電路板檢測
●LSI/VLSI/ALSI測試診斷
●信息捕捉、記錄新技術(shù)
●故障診斷與建模
F、CAD、CAM與CAE、CAT技術(shù)
●儀器與計算機融合
●接口技術(shù)
●基于PC的儀器開發(fā)
●計算機控制技術(shù)
●數(shù)據(jù)存儲技術(shù)
●移動存儲設(shè)備開發(fā)
●芯片組集成開發(fā)與設(shè)計
G、軟件工程
●軟件編程與驅(qū)動開發(fā)
●嵌入操作系統(tǒng)與軟件
●數(shù)據(jù)庫開發(fā)與應(yīng)用
●虛擬儀器軟件系統(tǒng)開發(fā)
●安全軟件開發(fā)與設(shè)計
●模式識別(文字識別、圖象識別、語音識別)及應(yīng)用
●電源管理軟件技術(shù)
●多系統(tǒng)驅(qū)動程序的開發(fā)
H、其它電子與測控技術(shù) |
