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奧林巴斯IXplore SpinSR是一款專為快速三維超分辨成像和動態(tài)樣品長時間觀察設計的共聚焦超分辨系統(tǒng)。該系統(tǒng)不僅具備出色的成像速度，還能在復雜結構和動態(tài)實驗中快速揭示高分辨率細節(jié)。無需特殊標記即可實現(xiàn)低至120nm的XY分辨率，適用于多種類型的動態(tài)樣品研究。
超高分辨成像能力
IXplore SpinSR結合了轉盤共聚焦技術和奧林巴斯獨有的超高分辨率技術（OSR），能夠捕捉以往難以達到的精細結構。例如，通過OSR技術可以清晰地觀察到材料表面的微細紋理、復合結構中的微觀分布等。這種技術的應用極大拓展了對精密結構的理解，如納米級孔隙、晶體排列以及微觀機械部件的內(nèi)部構造等。
動態(tài)樣品成像的新紀元
利用IXplore SpinSR進行動態(tài)觀察時，其快速且低干擾的成像特性使得長時間監(jiān)測成為可能。通過轉盤共聚焦高速采集與快速超高分辨率處理相結合，用戶可在短時間內(nèi)獲取樣品的高清圖像，特別適合用于需要連續(xù)追蹤的動態(tài)過程，如材料形變、粒子運動或微流控系統(tǒng)中的流動行為等。實時監(jiān)控有助于更深入理解復雜系統(tǒng)的運行機制。
多種成像模式
IXplore SpinSR支持寬場、共聚焦和超高分辨三種成像模式，可根據(jù)不同需求自由切換。無論是觀察淺層結構還是深層細節(jié)，該系統(tǒng)都能提供高質量圖像。此外，配合高性能物鏡使用，可實現(xiàn)更深層次、更高對比度的三維成像，讓用戶從整體到局部全面掌握樣品的微觀信息。
更清晰的圖像質量
為了進一步提升圖像質量，IXplore SpinSR集成了奧林巴斯TruSight反卷積算法，有效消除圖像模糊，增強清晰度和銳利度。同時，系統(tǒng)支持多色成像而無需特殊染料或標記，簡化了操作流程，提高了成像效率。
用戶友好的設計
IXplore SpinSR在設計上充分考慮用戶體驗，界面直觀、操作簡便，即使是首次使用者也能快速上手。其靈活性與強大功能使其成為現(xiàn)代科研和工業(yè)檢測領域的重要工具，廣泛適用于材料科學、電子器件分析、半導體檢測等多個方向。
奧林巴斯IXplore SpinSR超分辨率顯微鏡憑借技術性能、多樣化的成像模式以及人性化的操作體驗，開啟了高精度成像的新階段，助力全球研究人員在多個學科領域取得更多突破性成果。
奧林巴斯光學顯微鏡：https://lifescience.evidentscientific.com.cn/zh/products/
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