1.導(dǎo)通測(cè)試
導(dǎo)通測(cè)試是線(xiàn)束中必須相連接的點(diǎn)是否準(zhǔn)確的連接。通常人們用的方法是線(xiàn)路的一端，施以一定額的電流，并在另一端探查是否有相對(duì)應(yīng)的電流流出，而獲知該路徑是否接通，再進(jìn)一步量測(cè)兩端的電壓差，計(jì)算該導(dǎo)線(xiàn)的電阻值，此要對(duì)線(xiàn)束逐點(diǎn)進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)的測(cè)試。
在多線(xiàn)束導(dǎo)通測(cè)試的過(guò)程中，如果有錯(cuò)誤發(fā)生，不論是斷線(xiàn)、短路或接線(xiàn)錯(cuò)誤，通常最大的困難就是找到真正的錯(cuò)誤，是斷線(xiàn)未接，還是連接錯(cuò)誤，還是線(xiàn)間短路等等。傳統(tǒng)上簡(jiǎn)單的線(xiàn)束測(cè)試器中，通常是一對(duì)一的導(dǎo)通測(cè)試及一對(duì)一的絕緣測(cè)試。這種方法對(duì)于復(fù)雜的線(xiàn)束拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)，經(jīng)常無(wú)法檢測(cè)涵蓋所有錯(cuò)誤，即使發(fā)現(xiàn)有錯(cuò)誤，仍不能很快的掌握實(shí)際的狀況。
線(xiàn)束的正常連接及常見(jiàn)失效如下圖所示：
線(xiàn)束導(dǎo)通測(cè)試示意圖
ATX-3000線(xiàn)束測(cè)試儀導(dǎo)通測(cè)試原理：給需要測(cè)試的線(xiàn)束施加一定電流，測(cè)量線(xiàn)纜端點(diǎn)處的電壓值和電流值，由測(cè)試儀內(nèi)部對(duì)測(cè)量結(jié)果使用歐姆定律進(jìn)行換算，得出準(zhǔn)確的電阻值。用此電阻值與用戶(hù)設(shè)定的電阻值進(jìn)行比較，判定是否有質(zhì)量隱患。導(dǎo)通測(cè)試原理圖如圖：
線(xiàn)束測(cè)試儀導(dǎo)通測(cè)試原理圖
該導(dǎo)通測(cè)試功能通過(guò)快速自學(xué)習(xí)保存一個(gè)正確標(biāo)準(zhǔn)，便可得出未知電纜線(xiàn)束連接關(guān)系，省去手工輸入接線(xiàn)關(guān)系的不便和繁瑣工序，判斷連接關(guān)系是否正確，是否有短路、斷路、誤配線(xiàn)等質(zhì)量隱患。
本方案中，線(xiàn)束測(cè)試儀主機(jī)選用高性能DSP和FPGA核心芯片，F(xiàn)PGA的工作頻率由FPGA芯片以及設(shè)計(jì)決定系統(tǒng)時(shí)鐘頻率較高，CPLD內(nèi)部采用固定長(zhǎng)度的金屬線(xiàn)進(jìn)行各邏輯塊的互連，所以設(shè)計(jì)的邏輯電路具有時(shí)間可預(yù)測(cè)性,確保導(dǎo)通速度不低于0.5S/點(diǎn)，其中具體環(huán)節(jié)測(cè)試時(shí)間如下表所示。
2.電阻測(cè)試
線(xiàn)束測(cè)試儀ATX-3000電阻測(cè)試基于開(kāi)爾文電橋的四線(xiàn)隔離法進(jìn)行測(cè)試。四線(xiàn)測(cè)試法技術(shù)是被高精度電路測(cè)量系統(tǒng)所采用的一種電阻測(cè)試方法，四線(xiàn)測(cè)試方法是利用Kelvin電橋測(cè)試法進(jìn)行電阻測(cè)量，并采用24位ADC保證在低電流的情況下滿(mǎn)足微電阻的精確度。當(dāng)被測(cè)電阻阻值較小時(shí)，利用這種測(cè)試方法可獲得非常精確的測(cè)試結(jié)果。此測(cè)試法是利用直接從被測(cè)電阻兩端讀取電壓的方法，可以消除測(cè)試導(dǎo)線(xiàn)帶來(lái)的誤差累積，尤其是在測(cè)長(zhǎng)距離和多轉(zhuǎn)接終端電阻阻值時(shí)，可補(bǔ)償線(xiàn)束測(cè)試儀內(nèi)部和線(xiàn)間電阻誤差。
Kelvin電橋測(cè)試法原理圖
兩線(xiàn)制測(cè)電阻會(huì)引入線(xiàn)上電阻，如圖所示：
四線(xiàn)制測(cè)電阻電壓表的電流保持在最低限度，避免了導(dǎo)線(xiàn)的電阻所引起的誤差，提高電阻測(cè)量精度，如圖所示：
Aigtek安泰電子研究的ATX-3000線(xiàn)束測(cè)試儀，采用計(jì)算機(jī)輔助測(cè)試技術(shù)，將控制系統(tǒng)、人機(jī)交互模塊、測(cè)試功能電路和繼電器陣列集成在一起，自動(dòng)化程度比較高，一定程度上提高了測(cè)試精度和效率。能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)整機(jī)電纜的短路、斷路、絕緣和耐壓故障進(jìn)行檢測(cè)以及對(duì)二極管、繼電器、開(kāi)關(guān)等電子元器件的可靠性進(jìn)行測(cè)試。系統(tǒng)的測(cè)量控制單元采取模塊化設(shè)計(jì)，系統(tǒng)的每個(gè)分布式開(kāi)關(guān)單元有多達(dá)4096 點(diǎn)的測(cè)試容量，測(cè)試速度快;系統(tǒng)測(cè)試容量大，且擴(kuò)展方便。
通過(guò)以上的介紹，相信您對(duì)于線(xiàn)束測(cè)試儀低壓測(cè)試原理有了清晰的了解，如想了解更多，請(qǐng)持續(xù)關(guān)注安泰電子。
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