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三.混合信號(hào)測(cè)試呼喚IC測(cè)試新技術(shù)
混合信號(hào)測(cè)試總線是測(cè)試數(shù)字和模擬信號(hào)的起點(diǎn)，但不是解決問題的全部方案。
集 成電路制造商希望找到一種測(cè)試方法，既能確保產(chǎn)品高質(zhì)量，又能使成本合算，換句活說，測(cè)試一種使合格產(chǎn)品產(chǎn)量最大、次品減至最低的方式。隨著越來越多的 核，無論是存儲(chǔ)器、邏輯電路、鎖相環(huán)即射頻IC核都集成到系統(tǒng)級(jí)芯片中。目前，制造商幾乎找不到一種滿意的自動(dòng)測(cè)試設(shè)備來測(cè)試它們�，F(xiàn)有的測(cè)試沒備還不能 測(cè)試像鎖相環(huán)等模似/混全信號(hào)器件。現(xiàn)在的一些器件是數(shù)字的，但卻有大量的模擬特性，這就對(duì)測(cè)試設(shè)備提出了新的測(cè)試需求。對(duì)此，模擬與混合佶號(hào)核目前還沒 有明確的測(cè)試方案。而數(shù)字測(cè)試系統(tǒng)能使用基于掃描的測(cè)試方法來測(cè)試其內(nèi)部特性。數(shù)字測(cè)試大部分是結(jié)構(gòu)性測(cè)試，它能檢測(cè)開路，短路和邏輯狀態(tài)。而模擬測(cè)試多 半是有關(guān)特性的功能測(cè)試，它能檢査器件的工作是否正常。一個(gè)方案就是將IC測(cè)試過 程分散到整個(gè)制造過程中，把成本分散開。確定在毎一級(jí)（晶片、芯、襯底、板、系統(tǒng)和最終產(chǎn)品）應(yīng)該監(jiān)視什么。對(duì)混合信號(hào)IC的模擬部分必須采用復(fù)雜的高精 度的功能測(cè)試。唯一明確的答案是對(duì)芯片的模擬部分的功能進(jìn)行直接測(cè)量。然而， 混合信號(hào)測(cè)試系統(tǒng)太昂貴,定價(jià)高達(dá)100—300萬美元，因 為它包括模擬與數(shù)字測(cè)試設(shè)備。
四、嵌入核IC測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)急需系統(tǒng)推出
現(xiàn)在芯片設(shè)計(jì)的一個(gè)重點(diǎn)是系統(tǒng)級(jí)芯片。這種IC將重復(fù) 使用已設(shè)計(jì)好的功能復(fù)雜的電路模塊，即嵌入核，也稱為IP模塊或虛擬部件。對(duì)包括兩個(gè)或多個(gè)廠商提供的嵌入核的IC的可測(cè)性來說，還沒有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)。每一個(gè) 核提供商都在其產(chǎn)品上設(shè)計(jì)了一些可測(cè)性電路。然而，如果沒有單獨(dú)定義的、公開的可測(cè)性設(shè)計(jì)方法，核集成商不能自動(dòng)檢測(cè)毎一核的可測(cè)性，也不能對(duì)它們進(jìn)行集 成。
IEEE P1500是測(cè)試嵌入核的推薦標(biāo)準(zhǔn)。它已正式稱為基于嵌入核的IC的P1500標(biāo)準(zhǔn)可測(cè)性方法。P1500工作組為重復(fù)使用IP模塊的IC制定了個(gè)標(biāo)準(zhǔn)可測(cè)性方法。該標(biāo)準(zhǔn)的概念在干具有獨(dú)立性，即嵌入核具有自測(cè)試電路, 在功能上與整個(gè)IC或其它嵌入核無關(guān)。
IEEE P1500的目的是確定檢測(cè)與診斷這類IC故障的可測(cè)性要求，同時(shí)使不同廠商提供的核易于交互�？蓽y(cè)性設(shè)計(jì)方法的結(jié)果是自動(dòng)識(shí)別和配置含嵌人式核的IC的可測(cè)性特性。該方法適合各類數(shù)字嵌入式核。
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