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數(shù)優(yōu) | 讓手機(jī)整機(jī)外觀全檢突破行業(yè)瓶頸

http://bfqmb.cn 2018-09-20 23:52 來源:數(shù)優(yōu)(蘇州)人工智能科技有限公司

展會新聞簡訊:

       數(shù)優(yōu)(蘇州)人工智能科技有限公司作為人工智能缺陷檢測領(lǐng)域的霸主,于2018.9.19-23日參加了中國唯一一個國家級國際化工業(yè)博覽會,由國家發(fā)展和改革委員會、工業(yè)和信息化部、科學(xué)技術(shù)部、中國科學(xué)院、中國工程院、中國國際貿(mào)易促進(jìn)委員會、聯(lián)合國工業(yè)發(fā)展組織和上海市人民政府共同主辦的第二十界中國國際博覽會。

數(shù)優(yōu)中國區(qū)總經(jīng)理韓旭先生及同事現(xiàn)場照片

(數(shù)優(yōu)中國區(qū)總經(jīng)理韓旭先生及同事現(xiàn)場照片)

       此次數(shù)優(yōu)帶來的基于深度學(xué)習(xí)算法的AI缺陷檢測顛覆性產(chǎn)品一度出現(xiàn)聚焦熱點(diǎn),下面為大家介紹此次展會的明星產(chǎn)品—人工智能手機(jī)整機(jī)外觀全檢設(shè)備,經(jīng)過一年的在線運(yùn)行與驗(yàn)證,已完全達(dá)到了客戶工業(yè)4.0智能生產(chǎn)車間的技術(shù)指標(biāo)要求,這標(biāo)志著困擾行業(yè)多年的手機(jī)整機(jī)外觀全檢難題終于被攻克。

       目前手機(jī)整機(jī)外觀全檢存在的問題:

       · 手機(jī)整機(jī)外觀檢涉及到曲面以及復(fù)雜紋理圖像中細(xì)微劃痕的缺陷需求,現(xiàn)有的AOI檢測設(shè)備無法滿足,只能通過人工肉眼二次復(fù)檢增加額外費(fèi)用。

       · 人工檢測往往容易遺漏或難以檢測出手機(jī)外殼上出現(xiàn)的污點(diǎn)、劃痕、邊緣缺失、裂紋、水跡水印、氣泡、手指紋、異物、油墨、異色區(qū)分問題。

       數(shù)優(yōu)人工智能的解決方案:

       數(shù)優(yōu)的人工智能手機(jī)整機(jī)外觀全檢設(shè)備可實(shí)現(xiàn)360°自主檢測,并且可以精準(zhǔn)檢測到例如手機(jī)曲面上的缺陷檢測,不但能準(zhǔn)確檢測到缺陷的位置、形狀還能自動計(jì)算缺陷的長度、面積、數(shù)量等各種企業(yè)需要得到的信息,并可以結(jié)合數(shù)優(yōu)的用戶界面實(shí)時顯示檢測出來的結(jié)果。

       · 支持類似手機(jī)整機(jī)外觀缺陷檢測設(shè)備,包括污點(diǎn)、劃痕、邊緣缺失、裂紋、水跡水印、氣泡、手指紋、異物、油墨、異色區(qū)分檢測

       · 多工藝物料需要在一套算法系統(tǒng)中解決

       · 檢測區(qū)域包括表面、背部、側(cè)端、邊角多個面檢測

       · 檢測準(zhǔn)確度可以達(dá)到99.97%以上,檢測精度最小達(dá)到1Pixel

       · 具備剔除分類功能,針對缺陷類型可做返工或者報廢分類

       · 可以直接兼容到工廠現(xiàn)有產(chǎn)線之上

手機(jī)背面復(fù)雜紋理圖像中細(xì)微劃痕檢測

手機(jī)背面復(fù)雜紋理圖像中細(xì)微劃痕檢測

手機(jī)側(cè)面曲面的污點(diǎn)、劃痕檢測

手機(jī)側(cè)面曲面的污點(diǎn)、劃痕檢測

       數(shù)優(yōu)的人工智能手機(jī)整機(jī)外觀全檢設(shè)備結(jié)合光電、機(jī)械、人工智能深度學(xué)習(xí)算法等領(lǐng)域的系統(tǒng)整合,其檢測技術(shù)大量結(jié)合人工智能深度學(xué)習(xí)算法、光學(xué)原理、圖像處理、運(yùn)動控制及精密機(jī)械等技術(shù),利用光學(xué)方式采集圖像以獲得產(chǎn)品的表面狀態(tài),以人工智能算法、圖像處理技術(shù)來檢出產(chǎn)品缺陷或圖案異常等,具有高速度、高精度、高穩(wěn)定大等特性,不論是在生產(chǎn)的制程中監(jiān)測或精密的品質(zhì)管理,異或在高科技產(chǎn)品的制造與檢驗(yàn)作業(yè)上,都是不可或缺的角色。

人工智能手機(jī)整機(jī)外觀全檢設(shè)備

設(shè)備參數(shù):

設(shè)備名稱:人工智能手機(jī)整機(jī)外觀全檢設(shè)備

簡稱:COI(Cosmetic Optical Inspection)

檢測位置:上下表面、側(cè)面、邊緣

檢測數(shù)量:1pc

檢測速度:1pc<15s

像素分辨率:20um

光源:三層光源

展會仍在進(jìn)行,欲想了解更多關(guān)于數(shù)優(yōu)的人工智能缺陷檢測技術(shù),歡迎廣大新老客戶蒞臨展位現(xiàn)場。

展會信息:

第20界中國國際工業(yè)博覽會

國家會展中心(上海)青浦區(qū)崧澤大道333號

6.1H B024

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