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　　時(shí)間：2010.11月10日—12日   地點(diǎn)：北京京儀大酒店

　　征文通知

　　征文專題:

　　本次大會(huì)倡導(dǎo)基礎(chǔ)理論前瞻性與應(yīng)用研究實(shí)用性的緊密結(jié)合，推動(dòng)理論方法與技術(shù)發(fā)明的齊頭并進(jìn)，探索在低碳經(jīng)濟(jì)模式下儀器儀表產(chǎn)業(yè)所面臨的機(jī)遇和挑戰(zhàn)，重點(diǎn) 關(guān)注智能電網(wǎng)、物聯(lián)網(wǎng)、傳感器、節(jié)能減排、健康產(chǎn)業(yè)、自動(dòng)化儀表、科學(xué)儀器、人才培養(yǎng)等八個(gè)方面，并擬作為大會(huì)主題報(bào)告。為實(shí)現(xiàn)上述目標(biāo)，大會(huì)還將圍繞以 下專題征文：

　　基礎(chǔ)理論與前沿技術(shù)

　　現(xiàn)代儀器科學(xué)的基礎(chǔ)理論與方法學(xué)

　　自動(dòng)化測(cè)試與儀器儀表的基礎(chǔ)理論

　　自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)與總線技術(shù)

　　現(xiàn)代誤差理論與數(shù)據(jù)處理方法

　　過程控制理論與產(chǎn)品質(zhì)量測(cè)試

　　信息理論與儀器儀表系統(tǒng)設(shè)計(jì)

　　數(shù)據(jù)采集與處理

　　自動(dòng)化測(cè)控技術(shù)及工業(yè)自動(dòng)化儀表與系統(tǒng)

　　過程控制系統(tǒng)：DCS、PLC、IPC、PAC等

　　先進(jìn)控制技術(shù)APC

　　工廠制造執(zhí)行系統(tǒng)MES

　　人工智能、專家系統(tǒng)、模糊控制系統(tǒng)

　　神經(jīng)元網(wǎng)絡(luò)

　　智能執(zhí)行器與控制閥

　　現(xiàn)場(chǎng)總線

　　各個(gè)行業(yè)專用自動(dòng)化儀表

　　科學(xué)測(cè)試、分析技術(shù)及科學(xué)儀器

　　實(shí)驗(yàn)室分析測(cè)試技術(shù)及分析儀器

　　物理性能測(cè)試技術(shù)及測(cè)試儀器

　　生命科學(xué)檢測(cè)前沿技術(shù)及檢測(cè)儀器

　　環(huán)境監(jiān)測(cè)前沿技術(shù)及監(jiān)測(cè)儀器

　　食品、藥品、農(nóng)產(chǎn)品質(zhì)量檢測(cè)技術(shù)及檢測(cè)儀器

　　醫(yī)學(xué)診斷前沿技術(shù)及測(cè)試儀器

　　天文測(cè)試技術(shù)及測(cè)試儀器

　　航天科學(xué)探測(cè)儀器和飛行器控制儀

　　礦井安全監(jiān)測(cè)技術(shù)及監(jiān)測(cè)儀器

　　汽車、船舶、鋼鐵、電子領(lǐng)域的最新測(cè)試技術(shù)與儀器

　　農(nóng)林、能源、材料、化工等相關(guān)領(lǐng)域最新測(cè)試、測(cè)量技術(shù)

　　資源探測(cè)器前沿技術(shù)

　　特種檢測(cè)儀器及測(cè)試技術(shù)

　　分析、測(cè)試儀器配件耗材的研究與應(yīng)用  

　　信息計(jì)測(cè)技術(shù)及電測(cè)儀器

　　電工計(jì)測(cè)技術(shù)及電工儀器儀表

　　電子測(cè)量基礎(chǔ)理論與前沿技術(shù)

　　計(jì)算機(jī)通信網(wǎng)絡(luò)測(cè)試技術(shù)及其應(yīng)用

　　通信測(cè)試技術(shù)與儀器系統(tǒng)

　　總線技術(shù)與自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)

　　電參量校準(zhǔn)計(jì)量和標(biāo)準(zhǔn)比對(duì)技術(shù)

　　電磁兼容測(cè)試與儀器

　　傳感器與光、機(jī)、電一體化

　　傳感器與變換器的理論基礎(chǔ)和技術(shù)

　　敏感元件與傳感器的設(shè)計(jì)及應(yīng)用

　　無線傳感器技術(shù)及應(yīng)用

　　新興傳感器及其網(wǎng)絡(luò)的設(shè)計(jì)和應(yīng)用

　　光纖傳感與光通信技術(shù)

　　狀態(tài)監(jiān)控與測(cè)試技術(shù)

　　全息光學(xué)、衍射光學(xué)與儀器

　　光電變換技術(shù)與光電儀器

　　激光、紅外、納米等技術(shù)的應(yīng)用

　　儀器儀表與系統(tǒng)設(shè)計(jì)應(yīng)用

　　嵌入式系統(tǒng)與應(yīng)用

　　測(cè)試軟件

　　建模與仿真

　　智能機(jī)器人

　　虛擬儀器

　　電控系統(tǒng)與裝置的設(shè)計(jì)與應(yīng)用

　　電力電子測(cè)試技術(shù)及應(yīng)用

　　電力傳輸系統(tǒng)測(cè)試

　　未來趨勢(shì)

　　微型化與智能化

　　嵌入式和聯(lián)網(wǎng)

　　網(wǎng)絡(luò)化系統(tǒng)化

　　個(gè)性化儀器

　　智能電網(wǎng)與測(cè)控

　　物聯(lián)網(wǎng)與測(cè)控

　　云計(jì)算與測(cè)控

　　三網(wǎng)融合與測(cè)控

　　人才培養(yǎng)

　　儀器科學(xué)與技術(shù)學(xué)科發(fā)展線路

　　儀器科學(xué)與技術(shù)人才需求

　　儀器科學(xué)與技術(shù)人才培養(yǎng)體系

　　產(chǎn)學(xué)研結(jié)合與人才培養(yǎng)

　　“卓越工程師”培養(yǎng)

　　其他

　　重要日期：

　　論文投稿截止日期 2010年8月15日

　　論文錄用通知日期 2010年9月15日

　　投稿須知：

　　1. 投稿論文撰寫要求請(qǐng)參照www.etmchina.com公布的《儀 器儀表學(xué)報(bào)》投稿要求及論文模板；

　　2. 論文的結(jié)構(gòu)為：論文題目（中英文）、作者姓名、單 位、所在城市及其郵編、摘要（中英文）、關(guān)鍵詞（中 英文）、正文、參考文獻(xiàn)、作者簡(jiǎn)介；

　　3. 如果論文內(nèi)容可能涉密，請(qǐng)作者主動(dòng)提交“已通過工作 單位保密審查”的證明；論文的構(gòu)成部分依次為：論文 題目、作者姓名、單位、所在城市及郵編、摘要、關(guān)鍵 詞、正文、參考文獻(xiàn)、作者簡(jiǎn)介。

　　4. 論文一經(jīng)提交，即表明作者同意會(huì)議主辦方擁有論文版 權(quán)；

　　5. 投稿時(shí)請(qǐng)?zhí)峤籑S Word版本；

　　6. 請(qǐng)“人才培養(yǎng)”主題的論文投稿到rcpy2010@163.com, 其余主題的論文投稿到ciscic@vip.163.com, 請(qǐng)務(wù)必在 郵件中提供以下信息：

　　姓名 職稱 電話 手機(jī) E-mail 詳細(xì)通信地址 發(fā)票抬頭

　　論文集：

　　經(jīng)過大會(huì)評(píng)審委員會(huì)評(píng)審?fù)ㄟ^的論文將發(fā)表在《儀器儀表學(xué)報(bào)》增刊公開發(fā)表。

　　征文聯(lián)系方式：

　　地址：北京市東城區(qū)北河沿大街79號(hào)二樓

　　郵編：100009

　　聯(lián)系人: 鮑軍名

　　電話: 010-64005190-845傳真: 010-84851365

　　E-mail: ciscic@vip.163.com

　　更多詳情，請(qǐng)登錄網(wǎng)站：www.etmchina.com